微機繼電保護測試儀dv/dt閉鎖。

  這個測試頁與上文中的“df/dt閉鎖”很相似，區(qū)別在于每輪測試變化的是dv/dt值。下面只對它們的不同點做介紹。

  dv/dt測試范圍

  測試“dv/dt閉鎖值”時在此范圍內(nèi)逐點進行試探測試，每次測試時電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內(nèi)逐點變化，試探至某一輪試驗如果保護動作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。
  因為裝置在大于整定的dV/dt閉鎖值時處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應設(shè)置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應設(shè)置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動作做到動作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。

  電壓變化范圍

  為了模擬電壓下降的過程，一般應設(shè)電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設(shè)置的電壓“變化終值”應大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。